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产品中心

双折射测量仪PA-Micro

  • 型 号：
  • 访问次数：4393
  • 更新时间：2024-09-03
  • 价   格：

双折射测量仪PA-Micro操作简单，测量速度可以快到3秒。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。

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PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，*的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

双折射测量仪PA-Micro主要特点：

  • 操作简单，测量速度可以快到3秒。

  • 视野范围内可一次测量，测量范围广。

  • 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

  • 高达2056x2464像素的偏振相机

双折射测量仪PA-Micro应用领域：

  • 通信光纤

  • 晶体

  • 医学细胞


技术参数：

项次

项目            

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】


2

测量波长

520nm


3

双折射测量范围

0-130nm


4

测量小分辨率

0.001nm


5

测量重复精度

<1nm（西格玛）


6

视野尺寸

142x170um到3.5x4.2mm
(×2，×5，×10，×20，×50)


7

选配镜头视野

无


8

选配功能    

实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制


测量案例：


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