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双折射测量仪PA-300-L
双折射测量仪PA-300-L是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其*技术的光子晶体偏光阵列片,双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。
双折射测量仪PA-300-L是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其*技术的光子晶体偏光阵列片,双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。
双折射测量仪PA-300-L主要特点:
操作简单,测量速度可以快到3秒。
视野范围内可一次测量,测量范围广。
更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
高达2056x2464像素的偏振相机。
双折射测量仪PA-300-L应用领域:
光学镜片
智能手机玻璃基板
蓝宝石、硅晶圆
人工晶体等等
技术参数:
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】 |
2 | 测量波长 | 520nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-130nm |
4 | 测量最小分辨率 | 0.001nm |
5 | 测量重复精度 | <1nm |
6 | 视野尺寸 | 40x48mm到240x320mm(标准) |
7 | 选配镜头视野 | 不适用 |
8 | 选配功能 | 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 |
测量案例: