应力双折射测量系统

• 型 号：WPA-200-L
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• 更新时间：2024-09-03
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应力双折射测量系统WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶体制造技术开发的产品，*的测量技术，高速而又精q的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，Z适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

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应力双折射测量系统产品简介

   WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶体制造技术开发的产品，*的测量技术，高速的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。

该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

应力双折射测量系统WPA-200-L特点

u  操作简单，测量速度可以快到3秒，

u  采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。

u  测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。

u  具有多种分析功能和测量结果的比较。

u  维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

应力双折射测量系统WPA-200-L主要应用

·         光学零件（镜片、薄膜、导光板）

·         透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

·         透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL）

·         透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

·         有机材料（球晶、FishEve）

参数指标