online双折射测量仪KAMAKIRI -X stageSTS的低配版，可升级STS 。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。

在线型双折射测量仪KAMAKIRI WM,适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。

online双折射测量仪KAMAKIRI W 适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量 LIVE实时输出双折射的信息 OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。

欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片很好的结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有online双折射测量仪KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。

双折射测量仪PA-300-L是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其*技术的光子晶体偏光阵列片，双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

ME-210-T膜厚测量仪为一种光学系膜厚测量装置，这个装置的特点是可以高精度测量1nm一下的极薄膜，也适合测量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技术，将不能变为可能，以往的技术是无法测量0.5mm厚的玻璃基板，在这项技术下，可进行极薄膜的高精度测量，举例来说显示器用的ITO膜或配向膜的评估，也可运用ME-210-T轻松达成。