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如何使用双折射仪测量样品的双折射值和方向？
更新时间：2023-05-22 点击次数：898次
双折射仪是一种测量材料双折射性质及其参数的仪器，可用于测量光学单晶、晶体、液晶等材料的双折射值和方向。在使用双折射仪测量样品的双折射值和方向时，需要进行以下步骤：
1.样品的制备
选取所需的样品，对其进行打磨或切割处理。样品的制备需要注意，在样品表面应该没有太深或者太浅的裂纹，气泡以及其他污染物，以免影响双折射的测量。
2.样品的设置
将经过打磨和切割处理的样品放置于样品台上，并根据需要设置样品的方向和位置。
3.调节参数
需要根据具体的样品，调节其工作参数，以便进行准确测量。需要调整像差补偿，根据样品大小调节数值光栅的位置,并累加光团的图像，以增强样品的信号-噪声比。
4.观察样品的双折射现象
在双折射测量过程中，需要观察样品的双折射图案和色泽变化，以确定样品的双折射现象。首先观察样品的测试位置，观察到细小的双折射图片后，再调整像差补偿、网规的水平，让图样清晰。
5.测量双折射值与方向
确定样品的双折射方向后，可以开始对其进行双折射值的测量。在双折射仪中，需要通过改变垂直于样品光线的旋转角度来进行测量。通常，通过旋转样品，可以记录其在不同角度下的双折射值，并计算双折射值与角度的关系曲线。
通过以上步骤，即可在双折射仪中测量样品的双折射值与方向。但是，在实际测量过程中，还需要注意以下几点：
首先，需要进行足够的预照明时间，以保证测量的准确性和稳定性。
其次，在测量过程中要注意垂直样品表面的光线照射，并且要记录下每一个测量点的光照位置，以便准确控制其位置和角度。
最重要的是，测量的结果要进行多次测量并取平均值，以减小实验误差。
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